Komprimering av testdata för SOC
-En implementation av metoden vector repeat
Sammanfattning:De ökande testdatavolymerna som krävs för att testa moderna System-On-Chip (SOC) bidrar i hög grad till den ökande produktionskostnaden. De stora testdatavolymerna kräver stora och dyra Automatic Test Equipment-minnen (ATE-minnen). För att minska behovet av dessa minnen så har olika komprimeringsmetoder utvecklats.Denna rapport beskriver arbetet med att implementera en given komprimeringsmetod för testdata till SOC. Den metod som används heter vector repeat och den implementeras genom skapandet av ett för ändamålet avsett dataprogrogram. För att vector repeat ska fungera effektivt så förutsätts det att in- och utgångarna på den ATE som används kan delas in i olika portar. Portarna används för att korta ner testdatats vektorer, vilket möjliggör en bättre komprimering. Resultaten av implementationen har verifierats med hjälp av experiment där testdata från en benchmark SOC använts och jämförts med okomprimerat testdata samt ytterliggare en komprimeringsmetod som heter 9C. Resultaten visar att vector repeat är en effektiv komprimeringsmetod om antalet portar är tillräckligt stort. Experiment har även genomförts som visar hur mycket komprimeringen förbättras då antalet portar som används ökas.Dessa resultat kan användas i framtida arbeten, varav ett exempel är, där kostnaden för ökat antal portar tas i beaktande.