Sammanfattning:De ökande testdatavolymerna som krävs för att testa moderna System-On-Chip (SOC) bidrar i hög grad till den ökande produktionskostnaden. De stora testdatavolymerna kräver stora och dyra Automatic Test Equipment-minnen (ATE-minnen). För att minska behovet av dessa minnen så har olika komprimeringsmetoder utvecklats.Denna rapport beskriver arbetet med att implementera en given komprimeringsmetod för testdata till SOC. Den metod som används heter vector repeat och den implementeras genom skapandet av ett för ändamålet avsett dataprogrogram. För att vector repeat ska fungera effektivt så förutsätts det att in- och utgångarna på den ATE som används kan delas in i olika portar.