Utökade tester enligt IEEE std 1149.1-2001 för Main Switch Board
Kravet på detta examensarbete var att utveckla tester för en produkt i prototypstadiet hos Ericsson i Katrineholm. Dessa tester ska framförallt användas som verktyg vid felsökning och utvecklas på kretskortsnivå. Detta innebär test för att hitta processrelaterade fel som t.ex. felaktiga lödningar. Arbetet började med att studera den tekniska bakgrunden. Sedan gjordes en testbarhetsanalys för att undersöka brister i tänkta tester och andra möjligheter till att få en bra feltäckning och felutpekning. Därefter utvecklas ett antal tester. Metoden som har används är uteslutande boundary-scan enligt IEEE standarden 1149.1-2001 genom verktyget Asset InterTech, Inc ScanWorks 3.4.Resultatet av arbetet innefattar framförallt minnestester för SDRAM och flash men också spänningskontroller och vanliga förbindelsetest. Dessa tester har också dokumenterats enligt Ericssons krav.