IC-påverkan av elektromagnetisk puls
Detta examensarbete undersöker effekter av en elektromagnetisk puls på IC-kretsar.För att kunna utvärdera inverkan har ett testobjekt, innehållande komponenter som skall testas, konstruerats. Detta testobjekt består av batteri, en enkel komponent och last. Ett pulsaggregat och en antenn användes för att generera de elektromagnetiska pulser som testobjektet utsattes för. Resultaten visar att inverkan på de testade komponenterna är möjlig. Inverkan visade sig vara beroende av bl.a. avståndet till antennen och den tid som testobjektet utsätts för störning. Störning har också utförts vid olika polariseringar.Ett mål var att kunna jämföra en elektromagnetisk störning via en antenn med en trådbunden störning, där pulsen genererats från samma pulsaggregat. Försöken att utföra trådbunden störning av testobjektet misslyckades då pulsen inte var tillräckligt bra.Detta examensarbete är en del av en artikel, High Power Ultra Wide Band and Vircator Source-Victim Experiment, som presenterades vid konferensen EMC Europe 2008.